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研究
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1.
微纳米MOS器件可靠性与失效机理
已借12次.
订购中
著者:
郝跃
刘红侠
出版社:
科学出版社
出版日期: 2008
文献类型:
图书 , 索书号:
TN4/z23
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2.
直接数字频率合成
已借2次.
订购中
著者:
白居宪
出版社:
西安交通大学出版社
出版日期: 2007
文献类型:
图书 , 索书号:
TN741/z1
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内容简介
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3.
单电子学
已借2次.
订购中
著者:
蒋建飞
出版社:
科学出版社
出版日期: 2007
文献类型:
图书 , 索书号:
TN103/z4
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内容简介
著者简介
4.
下一代移动系统:3G/B3G
已借6次.
订购中
著者:
艾托
出版社:
机械工业出版社
出版日期: 2007
文献类型:
图书 , 索书号:
TN929.5/z66
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内容简介
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5.
非线性电路理论及应用
订购中
著者:
刘崇新
出版社:
西安交通大学出版社
出版日期: 2007
文献类型:
图书 , 索书号:
TN711.4/z4
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内容简介
著者简介
6.
电子产品可靠性预计
已借6次.
订购中
著者:
张增照
潘勇
出版社:
科学出版社
出版日期: 2007
文献类型:
图书 , 索书号:
TN606/z8
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内容简介
著者简介
7.
移动通信业务变革新趋势:从技术到商务管理:technologies and business practice
已借8次.
订购中
著者:
U. 克尔马克斯基
Ulla Koivukoski
V. 拉塞尼恩
Vilho Raisanen
出版社:
中国广播电视出版社
出版日期: 2007
文献类型:
图书 , 索书号:
TN929.5/z63
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内容简介
著者简介
8.
电子学与信息系统
订购中
著者:
陈佳洱
出版社:
科学出版社
出版日期: 1995.11
文献类型:
图书 , 索书号:
TN01-12/723
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内容简介
著者简介
9.
电子技术基础习题与试题解
订购中
著者:
曾国华
李国成
出版社:
四川科学技术出版社
出版日期: 1985.10
文献类型:
图书 , 索书号:
TN01-44/862
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