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1.
出版社: 人民邮电出版社   出版日期: 1978
文献类型: 图书 , 索书号: TN916.38/314
2.
著者: 张伦
出版社: 国防工业出版社   出版日期: 1978
文献类型: 图书 , 索书号: TP216/120
3.
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 1985.12
文献类型: 图书 , 索书号: TP206/926
4.
著者:
出版社: 上海科学技术情报研究所   出版日期: 1977
文献类型: 图书 , 索书号:
5.
出版社: 上海科学技术情报研究所   出版日期: 1973
文献类型: 图书 , 索书号:
6.
著者: 郭海帆
出版社: 电子科技大学出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN97/1200/3
7.
集成电路测试基础 已借3次.
著者: 谷颜秋
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN407/z10
8.
出版社: 人民邮电出版社   出版日期: 2013
文献类型: 图书 , 索书号: TP311.56/z587