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1.
出版社: 人民邮电出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN43-49/2700/2
2.
集成电路测试基础 已借3次.
著者: 谷颜秋
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN407/z10
3.
著者: 赵鹤然
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN405/2700/2
4.
芯片及其他计算机技术 已借11次.
著者: 世图汇
出版社: 江苏凤凰科学技术出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN43-49/i2
5.
著者: 俞少峰
出版社: 上海科学普及出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN405/1100/1
6.
著者: 任俊彦
出版社: 上海科学普及出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN402/e2
7.
著者: 林青
出版社: 上海科学普及出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN43-49/z2
8.
著者: 刘子玉
出版社: 上海科学普及出版社   出版日期: 2022
文献类型: 图书 , 索书号: TN405/1100/2
9.
出版社: 电子工业出版社   出版日期: 2021
文献类型: 图书 , 索书号: TN410.2/z322
10.
出版社: 机械工业出版社   出版日期: 2021
文献类型: 图书 , 索书号: TN402/z45